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利用原子力显微镜对细胞胞吐微孔各种结构进行特性描述

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  • 利用原子力显微镜对细胞胞吐微孔各种结构进行特性描述

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  • TomMiao
  • 2015-01-14 18:15:07
  • 演讲人:John J Evans,新西兰奥塔哥大学副教授 原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器.它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质.
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